- 粉體/粉末/顆粒分析儀器
- 導(dǎo)電/絕緣材料電阻率測(cè)試儀系列
- 電壓降測(cè)試儀
- 粉體特性測(cè)試儀
- 粉末流動(dòng)性測(cè)定儀
- 粉體流動(dòng)性測(cè)試儀
- 粉體物性測(cè)試儀
- 粉末堆密度儀
- 粉末電阻率測(cè)試儀
- 安息角測(cè)定儀
- 壓實(shí)密度儀
- 松裝密度測(cè)定儀
- 振實(shí)密度儀
- 斯柯特容量計(jì)
- 粉末電導(dǎo)率測(cè)試儀
- 堆積密度測(cè)定儀
- 粉體特性綜合測(cè)試儀
- 表觀密度測(cè)定儀
- 表面電阻率測(cè)試儀
- 四探針測(cè)試儀
- 方阻測(cè)試儀
- 體積電阻率測(cè)試儀
- 表面和體積電阻測(cè)試儀
- 高溫電阻測(cè)試系統(tǒng)
- 雙電測(cè)四探針方阻/電阻率測(cè)試儀
- 水分儀
- 其他儀器儀表
FT-330 GB/T 1551-2009四探針電阻率測(cè)試儀
|
|
FT-330 GB/T 1551-2009四探針電阻率測(cè)試儀的詳細(xì)資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀
一. 描述: 采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀 硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀 適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償,并帶有溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報(bào)表
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
相關(guān)產(chǎn)品
在線留言 |